时代TT220 数字式覆层测厚仪使用说明书
目 录
第一章 概述-----------------------------------------------------------------2
一、适用范围
二、基本原理
三、基本配置及仪器结构
第二章 技术参数------------------------------------------------------------3
一、性能指标
二、主要功能
第三章 使用方法-----------------------------------------------------------4
一、基本测量步骤
二、各项功能及操作方法
⒈ 测量方式（单次测量⇔连续测量）
⒉ 工作方式（直接方式⇔成组方式）
⒊ 删除
⒋ 统计计算
⒌ 打印
⒍ 关于“MODE”键
第四章 仪器的校准-----------------------------------------------------------7
一、校准标准片
二、基体
三、校准方法
第五章 与仪器使用有关的注意事项-------------------------------------------9
一、影响测量精度的因素及有关说明
二、使用仪器时应当遵守的规定
三、关于测量结果的说明
第六章 保养与维修-----------------------------------------------------------11

第一章 概述
一、 适用范围
本仪器是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上
的非磁性覆盖层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检
测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。
二、基本原理
本仪器采用了磁性测厚法、可无损伤地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚
度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。
基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁
路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆盖层的
厚度。
三、基本配置及仪器结构
⒈ 基本配置
TT220 主机 1 台
标准样片 1 盒
标准基体 1 块
充电器 1 个
⒉ 选购件
TA210 打印机 1 台
⒊ 仪器结构
本仪器基本组成部分见图 1。
⒈ 测头 ⒉ 液晶显示屏幕 ⒊ ▲键⒋ ▼键⒌ MODE 键
⒍ ON/C 键⒎ 充电插座 ⒏ 打印机插座 ⒐ 外壳

第二章技术参数
一、 性能指标
⒈ 测量范围及测量误差（见表一）
表一
示值误差（μm）
型号 工作原理
测量范围
（μm）
低限分辨
力（μm） 零点校准二点校准
TT220 磁感应0~1250 1 ±（3%H+1）
±[（1%~
3%）H+1]
型号
待测基体
最小曲率半径
（mm）
基体
最小面积的直径
（mm）
基体临界厚度
（mm）
TT220 凸1.5 凹9 ∅7 0.5
注：H—标称值
⒉ 使用环境：
温度：0~40℃
湿度：20%～75%
无强磁场环境
⒊ 电源：镍镉电池 3.6 V 二节
⒋ 外型尺寸：150mm×55.5mm×23mm
⒌ 重量：150g
二、主要功能
● 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修
正；
● 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式
（SINGLE）；
● 具有两种工作方式：直接方式和成组方式；
● 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区
内的所有数据，以便进行新的测量；
● 设有五个统计量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、
测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；
● 具有打印功能，可打印测量值、统计值；
● 具有欠压指示功能；
● 操作过程有蜂鸣声提示；
● 具有错误提示功能；
● 具有自动关机功能。
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第三章使用方法
一、基本测量步骤
⒈ 准备好待测试件（参见第五章）。
⒉ 将测头置于开放空间，按一下“ON/C”键，开机。
⒊ 检查电源
● 无“╪”显示，表示电池电压正常；
● “╪”出现，表示电池电压已低落，应充电；
● 开机后，出现“╪”并自动关机，表示电池电压已低至极限，应立即充
电。
⒋ 正常情况下，开机后显示上次关机前的测量值。
⒌ 是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行（参见第四章）。
⒍ 测量
迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住，随着一声鸣响，屏幕显示测
量值，提起测头可进行下次测量；
如果在测量中测头放置不稳，显示一个明显的可疑值，可在“DEL ONE？”
状态删除该值；
重复测量三次以上，在“DIS STATS？” 状态，可依次显示五个统计
值，即：平均值（MEAN）、最大测量值（MAX）、最小测量值（MIN）、测
量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）。
⒎ 关机
在无任何操作的情况下，大约 2~3min 后仪器自动关机。
二、各项功能及操作方法
⒈ 测量方式（单次测量⇔连续测量）
● 单次测量方式──测头每接触被测件 1 次，随着一声鸣响，显示测量
结果。如若再测量，须提起测头离开被测件，然后再压下测头。
● 连续测量方式──不提起测头测量，测量过程中不伴鸣响，显示屏连
续显示测量结果。
● 两种方式的转换方法是：在关机状态下，按住“MODE”键后，再按
“ON/C”键，随着一声鸣响，转换完成。
单次测量方式，屏幕显示如下：
连续测量方式，屏幕显示如下：
30 μm
SINGLE
CONTINUE
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⒉ 工作方式（直接方式⇔成组方式）
● 直接（DIRECT）方式──此方式用于随意性测量，测量值暂存在内存
单元（共有15 个存贮单元）。当存满15 个存贮单元，新的测量值将
替掉旧测量值，并且参与统计计算的数值，总是最新的15 个数据；
● 成组方式（BATCH）──此方式便于用户分批记录所测试的数据，一
组最多15 个数值，每当存满一组（15 个）数据，屏幕将显示
此时可用“PRINT ALL？”打印出该组数值及其统计计算值。用“DEL
ALL？”删除该组数据，否则不能进行新的测量。成组方式避免了直接方
式下新值替旧值的随意性。
● 两种方式的转换方法是：
a. 按“MODE”键直至屏幕显示
按“ON/C”键确认后，屏幕显示
进入直接方式。
b. 按“MODE”键直至屏幕显示
按“ON/C”键确认后，屏幕显示
进入成组方式。
⒊ 删除
● 删除当前值：当前测量结果如果出现较大误差，且不希望此结果进入
统计计算，可按“MODE” 键，直至屏幕提示
此时，按“ON/C”键即可将此数据删除（如果不想删除，在
Tested 15!
DIRECT？
DIRECT
BATCH？
BATCH
DEL ONE？
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“DEL ONE？”状态下，按▲或▼键即可）。
● 删除全部数据：如果要删除内存中的全部数据以便进行新一轮测量，
可按“MODE”键，直至屏幕提示
此时，按“ON/C”键即可将内存全部数据删除（如果不想删除，在“DEL
ALL？”状态下，按▲或▼键即可）。
⒋ 统计计算
只要有 3 个测量值，即可进行统计计算。操作方法是：重复测量3 次以上，
按“MODE”键直至屏幕显示
按▲或▼键，平均值（MEAN）、最大测量值（MAX）、最小测量值（MIN）、
测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）可依次显示。
例如：
若要回到测量状态，按“MODE”键或“ON/C”键即可。
⒌ 打印功能
● 单次打印──与单次测量方式相对应，每测量一次，打印一个测量值。
操作方式是：在单次测量方式下，按“MODE”键直至屏幕显示
按“ON/C”键确认后，屏幕显示
DEL ALL？
DIS．STATS？
MEAN 100 μm
MAX 103 μm
MIN 99 μm
NO. 5
S. DEV 1.6 μm
PRT ONE？
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此后，每次测量都将打印。若要放丢打印，在“PRT ONE？”状态下，按
▲或▼键即可。
● 连续打印──连续打印既适用于单次测量方式也适用于连续测量方
式，内存中的全部测量值及统计值一并打印输出。操作方法是：按“MODE”
键直至屏幕显示
按“ON/C”键确认后，屏幕显示
同时打印输出内存中的所有测量值及统计值。若要放弃打印，在“PRT
ALL？”状态下，按▲或▼键即可。
● 打印机与本仪器的连接
只有本公司开发设计的打印机可与本仪器连接，进行打印工作。将打
印连线一头接打印机，另一头接本仪器，打开打印机电源，按上述方法操
作即可。
⒍ 关于“MODE”键
按住“MODE”键不松开，各状态提示将依次出现。
第四章 仪器的校准
为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。
一、校准标准片（包括箔和基体）
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
⒈ 校准箔
对本仪器“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的
校准。
⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于本仪
器，覆盖层应是非磁性的。
二、基体
⒈ 对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属
PRT ON
PRT ALL？
PRT ON
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的磁性和表面粗糙度相似。
为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的
读数进行比较。
⒉ 如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采
用下面两种方法进行校准：
1) 在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；
2) 用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须
使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。
⒊ 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的
曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。
三、校准方法
本仪器有两种测量中使用的校准方法，零点校准；二点校准；还有一种针对测
头的基本校准。
⒈ 零点校准
a． 在基体上进行一次测量，仪器显示＜×.×μm＞。
b． 按一下“ON/C”键，屏显＜0.00μm＞即完成零点校准。
c． 要准确地校准零点，须重复上述a、b 以获得基体测量值小于1μm，这
样有利于提高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。
⒉ 二点校准
a． 先校零点（见上）。
b． 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏
幕显示＜×××μm＞。
c． 用▲或▼键修正读数，使其达到标准片上的标称值。校准已完成，可
以开始测量了。
注意：即使显示结果与标准片值符合，按▲、▼键也是必不可少的，例如
按一次▲键一次▼键。
如欲较准确地进行二点校准，可重复 b、c 过程，以提高校准的精度，
减少偶然误差。
⒊ 在喷沙表面上校准
喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面
的方法确定
a． 仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校
准好。
b． 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量 10 次左右，得到平均值Mo。
c． 然后，在已涂覆的表面上测量 10 次得到平均值Mm。
d． （Mm—Mo）±S 即是覆盖层厚度。其中S（标准偏差）是SMm 和
SMo 中较大的一个。
⒋ 仪器的基本校准
在下述情况下，改变基本校准是有必要的：
──测头顶端被磨损
──测头修理后
──特殊的用途
在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校
准，称为基本校准。通过输入 6 个校准值（一个零值和5 个厚度值）可重新校
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准测头。
基本校准操作方法如下：
a． 在仪器关闭状态下按住▼键再按ON/C 键开机，随着一声鸣响即进入
基本校准方式。屏幕显示如下：
b． 先校零值（见零点校准）。可连续重复多次，以获得一个多次校准的
平均值，这样可提高校准的准确性。
c． 使用标准片，按厚度增加的顺序做五个厚度的校准（见二点校准中的
b、c）。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上，理想的情况是2
倍。例如：50、100、200、400、800μm。最大值应接近、但低于测头
的最大测量范围。
d． 在输入 6 个校准值后，测量一下零点，仪器自动关闭，新的校准值已
存入仪器。当再次开机时，仪器将按新的校准值工作。
第五章 与仪器使用有关的注意事项
对本仪器影响测量精度的因素主要有：基体金属磁性、基体厚度、边缘效应、
曲率、表面粗糙度、外界磁场、附着物质、测头压力、测头位置、试样的变形等。
一、影响测量精度的因素及有关说明
⒈ 基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变
化可以认为是轻微的），为了避免热处理及冷加工因素的影响，应使用与试件
基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。亦可用待涂覆试件进行校准。
⒉ 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基
体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见第二章《技术参数》。
⒊ 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行
测量是不可靠的。
⒋ 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。
⒌ 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增
大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加
测量的次数，以克服这种偶然误差。
如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取
几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶剂溶解除去覆盖层后，
再校对仪器的零点。
⒍ 磁场
B—Calibrate
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周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
⒎ 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必
须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
⒏ 测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此本仪器测头用
弹簧保持一个基本恒定的压力。
⒐ 测头的放置
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂
直。
⒑ 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会测出不太可靠的数据。
二、使用仪器时应当遵守的规定
⒈ 基体金属特性
标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与试件基体金属的磁性和表
面粗糙度相似。
⒉ 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度。
⒊ 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。
⒋ 曲率
不应在试件弯曲表面上测量。
⒌ 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几
个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在指定的面积内进行多次测量，表面
粗糙时更应如此。
⒍ 表面清洁度
测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀物质等，但
不要除去任何覆盖层物质。
三、关于测量结果的说明
⒈ 根据统计学的观点，一次读数是不可靠的。因此任何由本仪器显示的测量
值都是 5 次看不见的测量的平均值。这5 次测量是在几分之一秒的时间内由测
头和仪器完成的。
⒉ 为使测量更加准确，可用本仪器在待测点多次测量，并用删除功能对粗大
误差进行删除，然后用本仪器的统计功能处理，获取五个统计量：平均值
（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准
偏差（S．DEV）。
⒊ 按照国际标准，最终的测量结果可以表达为：
CH=M±2S
其中： CH—涂层厚度
M—多次测量的平均值（MEAN）
S—标准偏差（S．DEV）
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第六章保养与维修
⒈ 严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。
⒉ 定期给主机充电：一般每工作 8~24 小时充电一次，每次充电12~14 小时。
⒊ 如果未显示错误代码而工作不正常，例如：
􀁺 仪器不能自动关机；
􀁺 不能测量；
􀁺 键不工作；
􀁺 测量值反复无常。
出现这类故障时，使仪器强制复位。
强制复位的方法是：
a． 同时按▲键和MODE 键，屏幕依次显示如下：
b． 按▲+▼键，屏幕显示
c． 按▲键，屏幕显示
d． 按▼键，屏幕显示
e． 再按▲+▼键，屏幕显示
TT220．
VERSION 3.2
WR 93C46
RESET？
BE SURE1？
BE SURE2？
BE SURE3？
BE SURE4？
12
松开按键后屏幕显示
至此，强制复位已完成。
f．在“RESET？”状态，若要放弃强制复位，按▲或▼键即可。
注意：执行强制复位后，以前的基本校准值已丢失，用户须重新进行基本校准（基
本校准方法见第四章）。
当用户通过上述方法仍不能排除故障时，请用户不要拆机修，请将仪器交我公
司维修部修理。
如果能将出错误的情况简单描述一下，一同寄出，我们将会非常感谢您。
错误信息表
错误
代号
错误代号的含意 原因及解决办法
E01 仪器故障强制复位
E02 测头磨损更换测头
E03 测头或仪器损坏修理测头或仪器
E04 测量值不可靠。例如在磁场中或在
软覆盖层上测量时，测量值发生大
的波动
避开强磁场
在软质覆盖层上测量时，应采用辅
助装置进行测量
E05 开机时测头离金属基体太近测头远离金属基体
E06 厂家留用
E07 零值偏差太大，不能校零选择合适的基体或修理仪器
E08 仪器损坏修理仪器